Numer części producenta : | 8V182512IDGGREP |
---|---|
Status RoHs : | Bezołowiowa / zgodna z RoHS |
Producent / marka : | Luminary Micro / Texas Instruments |
Stan magazynowy : | 2101 pcs Stock |
Opis : | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Statek z : | Hongkong |
Arkusze danych : | |
Sposób wysyłki : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Nr części | 8V182512IDGGREP |
---|---|
Producent | |
Opis | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Stan ołowiu / status RoHS | Bezołowiowa / zgodna z RoHS |
dostępna ilość | 2101 pcs |
Arkusze danych | |
Źródło napięcia | 2.7 V ~ 3.6 V |
Dostawca urządzeń Pakiet | 64-TSSOP |
Seria | - |
Opakowania | Tape & Reel (TR) |
Package / Case | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
Inne nazwy | 296-22075-2 V62/04730-01XE |
temperatura robocza | -40°C ~ 85°C |
Liczba bitów | 18 |
Rodzaj mocowania | Surface Mount |
Poziom czułości na wilgoć (MSL) | 1 (Unlimited) |
Standardowy czas oczekiwania producenta | 42 Weeks |
Logic Type | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Status bezołowiowy / status RoHS | Lead free / RoHS Compliant |
szczegółowy opis | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP |
Podstawowy numer części | 74LVTH182512 |
IC REGISTERED BUFFER 160-TFBGA
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 48SSOP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536-1
IC RECEIVER/DRVR ECL DIFF 8SOIC
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC DRIVER QUAD DIFF PECL 16-SOIC
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536