Numer części producenta : | SN74BCT8244ADW |
---|---|
Status RoHs : | Bezołowiowa / zgodna z RoHS |
Producent / marka : | Luminary Micro / Texas Instruments |
Stan magazynowy : | 3625 pcs Stock |
Opis : | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
Statek z : | Hongkong |
Arkusze danych : | |
Sposób wysyłki : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Nr części | SN74BCT8244ADW |
---|---|
Producent | |
Opis | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
Stan ołowiu / status RoHS | Bezołowiowa / zgodna z RoHS |
dostępna ilość | 3625 pcs |
Arkusze danych | |
Źródło napięcia | 4.5 V ~ 5.5 V |
Dostawca urządzeń Pakiet | 24-SOIC |
Seria | 74BCT |
Opakowania | Tube |
Package / Case | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
Inne nazwy | 296-47718 SN74BCT8244ADW-ND SN74BCT8244ADWG4 SN74BCT8244ADWG4-ND |
temperatura robocza | 0°C ~ 70°C |
Liczba bitów | 8 |
Rodzaj mocowania | Surface Mount |
Poziom czułości na wilgoć (MSL) | 1 (Unlimited) |
Standardowy czas oczekiwania producenta | 6 Weeks |
Logic Type | Scan Test Device with Buffers |
Status bezołowiowy / status RoHS | Lead free / RoHS Compliant |
szczegółowy opis | Scan Test Device with Buffers IC 24-SOIC |
Podstawowy numer części | 74BCT8244 |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC